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10º Congreso Internacional de Metrología Eléctrica

 Se realiza en el INTI el X Congreso Internacional de Metrología Eléctrica, X SEMETRO, un ámbito de actualización y debate sobre las mediciones electromagnéticas, del que participan profesionales e industriales de todo el mundo.
 

22.09.2013 12:54 |  Noticias DiaxDia  | 

Organizado por el Instituto Nacional de Metrología, Calidad y Tecnología (INMETRO) de Brasil, y el INTI, tendrá lugar por primera vez en la Argentina, en el Parque Tecnológico Miguelete, San Martín, provincia de Buenos Aires, el 10° Congreso Internacional de Metrología Eléctrica, X Semetro.
 
El encuentro, que en sus anteriores ediciones se celebró en Brasil, abarca tanto mediciones de alta precisión como industriales, en un rango de frecuencias que va desde la corriente continua hasta la región óptica.
 
Las organizaciones participantes son principalmente laboratorios nacionales e industriales de metrología, organizaciones industriales que fabrican patrones eléctricos e instrumentos de medición y universidades que realizan investigaciones en mediciones de precisión, patrones y constantes fundamentales relacionadas.
 
Semetro es un congreso internacional que reúne a profesionales de América Latina y de todo el mundo. Tiene como objetivo brindar oportunidades únicas para dar a conocer actividades y productos a la comunidad metrológica internacional. Están invitadas a participar compañías comerciales, además de centros de investigación y universidades.
 
Contará con la participación de conferencistas invitados en presentaciones plenarias; entre ellos el doctor Joao Alziro da Jornada del INMETRO, Brasil; el doctor Luis Palafox del Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) de Alemania; el doctor Gert Rietveld del Dutch Metrology Institute (VSL) de Holanda; el doctor Joaquín Valdés del Comité International des Pesos y Medidas (CIPM) y de la Universidad Nacional de San Martín (UNSAM) Argentina; el doctor Gerald Fitzpatrick del National Institute of Standards and Technology (NIST) de EEUU; el doctor Pasquale Arpaia, de la University of Sannio and CERN- European Laboratory for Nuclear Research Italia-Suiza y el doctor Yi-hua Tang del National Institute of Standards and Technology (NIST) de Estados Unidos.
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